CW32L010系列产品（pǐn）是基于 eFlash 的单芯片低功耗微控（kòng）制器，集成了主频高达 48MHz 的 ARM® Cortex®-M0+ 内核、高（gāo）速（sù）嵌入式存（cún）储器（多（duō）至 64K 字节 FLASH 和多（duō）至 4K 字节（jiē） SRAM）以及一系（xì）列全面的增强型外设（shè）和 I/O 口。

内部框图

所有型号都提供全套的通信（xìn）接口（二（èr）路 UART、一（yī）路 SPI 和一路 I2C）、12 位高速 ADC、四组（zǔ）通用和（hé）基本（běn）定时器、一组低功耗定时器（qì）以及（jí）一（yī）组高级（jí）控制 PWM 定时器（qì）。

CW32L010 可以在 -40℃到（dào） 85℃的温（wēn）度范围内工作，供电电压宽达 1.62V ~ 5.5V。支持 Sleep 和 DeepSleep两种低功（gōng）耗（hào）工作模式CW32L010 可以在 -40℃到 85℃的温度（dù）范围内工作，供电电压宽达 1.62V ~ 5.5V。支持 Sleep 和（hé）DeepSleep两种（zhǒng）低（dī）功耗（hào）工作模式。

确保高（gāo）访问速度：可确保指令的快速执行，满足实时性要求高的应用场景。

易（yì）于升级迭代：在同等成本下（xià），扩大（dà）存（cún）储（chǔ）容量，为用户提供同（tóng）级最宽裕的程序和非易失（shī）存（cún）储空间（jiān），使得产品在面临功能升级或迭代时，能够更加（jiā）灵活地进行软件更新（xīn）和扩展（zhǎn）。

减少EEPROM依赖：通过提（tí）供充足的非易失性存储，减少了对外部EEPROM的依（yī）赖，降低了（le）系（xì）统成本和（hé）复杂性。

耐用性（xìng）更高：Flash擦写寿（shòu）命（mìng）高（gāo）达10,000次（cì），符合标杆要求，确保了产品的长期（qī）稳定运行（háng）。

2、黑客级代码（mǎ）安全防护（hù）

在微控（kòng）制器（MCU）领域，保护用（yòng）户（hù）的代码和知识产权（quán）至关（guān）重要。CW32L010系列MCU，以其（qí）创新的（de）安全特性，为（wéi）用户提供了一个坚不可摧的（de）代码保（bǎo）护解（jiě）决方案。

尽管目前大多（duō）数MCU都支持多种安（ān）全等级，阻（zǔ）止通过SWD/ISP接口读取Flash内容（róng）。但通（tōng）过下载间（jiān）谍（dié）程序，用挟（jiā）持内核的方式（shì）对Flash指令区做数据访（fǎng）问一（yī）般都被允许。

CW32L010系列产（chǎn）品可以阻止这个入侵，我们（men）允许用户划定（dìng）一块指令存储（chǔ）区域，只能通过指令总线取指（zhǐ）令执行（háng），不允许通过数据（jù）总线访（fǎng）问数据。在这个区域内（nèi），即使攻击者尝试通过下载间谍程序挟（jiā）持内核，也无法访（fǎng）问这块被保护（hù）的（de）存储（chǔ）区域。用户可（kě）以将包含（hán）敏感算法和关（guān）键功能的代（dài）码库存（cún）储在该区域，确保（bǎo）这些核心资产只能被调（diào）用，无法被复制或篡改。

超低（dī）功（gōng）耗工（gōng）作模式非常多，一般用户较关注待机（jī）电流（常温/高温）、全速运行电（diàn）流等几（jǐ）个主要指标。

CW32L010采用特别工（gōng）艺制程，将待机电流控制在0.3uA，高温（wēn）待机电流是竞品（pǐn）平均水（shuǐ）平的1/4~1/8。

5、RTC补偿精度是0.060ppm，支持亚秒级（jí）读数

CW32L010在（zài）设计时（shí）对RTC补偿机制（zhì）进行了优化（huà），可选择32，128，256秒为一（yī）个（gè）补偿周期，最精细的（de）补（bǔ）偿精度可达（dá）到0.060ppm，支持亚秒级读（dú）数。

6、全（quán）面（miàn）升级的低功耗串口，支（zhī）持LIN、RS485硬件使能

低功耗串口接收（shōu）数据可灵活配置接口电平（píng），可产生关键（jiàn）字中断和帧（zhēn）超时（shí）中断，支持LIN、RS485硬件使（shǐ）能、TXD和RXD互换及内（nèi）部回（huí）环功能、LSB/MSB硬件（jiàn）转换。

7、85℃ Latch Up测试成绩优异，闩锁（suǒ）门（mén）限测试成绩高达（dá）±600mA

在MCU的设计和应用中，静电（diàn）放（fàng）电（ESD）的防（fáng）护能力是（shì）衡量产品可靠性的重要指标之一。其中高温Latch Up（闩（shuān）锁）测试（shì）可以说明一定问题，CW32L010在高温Latch Up（闩锁）测试中表（biǎo）现（xiàn）出色，闩锁门限测试成绩（jì）高达（dá）±600mA，远高（gāo）于行业（yè）一般水平（píng），相比竞品一般水平为3~6倍。强大的ESD防护能（néng）够（gòu）保（bǎo）护MCU内（nèi）部数据不受静电放电的影（yǐng）响以及在各（gè）种环境下的长期稳（wěn）定运行。

8、16路ADC输（shū）入2M采样率，采（cǎi）样保持时间可独立配置

9、内部时（shí）钟源特（tè）性无惧挑剔

CW32L010系列产品提供 QFN20、TSSOP20、SOP16 三种（zhǒng）不（bú）同的（de）封（fēng）装形式，不同封装的产品所能实现的功能有所不同，具体情况如下（xià）表所示：

 CW32L010 家族产品功（gōng）能列表